XAN® 系列仪器特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该系列产品简单易用且性价比高，因此在同类产品中脱颖而出。

特性：

　　操作简单且性价比高。

　　自下而上进行测量，从而快速、简便地定位样品

　　广泛适用：为各个行业的典型需求量身定制了多种型号

　　以非破坏性方式进行镀层厚度测量与元素分析

　　带有高性能 X 射线管和高灵敏度的硅漂移探测器 (SDD)的机型，可对极薄镀层及微量成分进行精确测量

　　应用：

　　镀层厚度测量

　　厚度仅为几纳米的贵金属镀层

　　时尚首饰：对代镍镀层等新工艺多镀层系统进行分析

　　抗磨损镀层，如：对化学镍镀层的厚度及磷含量进行测量

　　测试纳米级基础金属化层(凸点下金属化层，UBM)

　　材料分析

　　测定黄金首饰等贵金属、手表和硬币的成分与纯度

　　专业实验室、检测机构以及科研院校中常规材料分析

　　依据 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他准则，检测电子元件、包装以及消费品中不合要求的物质(例如重金属)

　　功能性镀层的成分，如测定化学镍中的磷含量